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   (1)试验方法的选择

    如果试验的目的是为了确定电子电工产物在高温条件下贮存或非工作状态下的适应性，一般采用非散热样品的温度突变或温度渐变的高温试验。但必须注意，温度突变对样品无破坏作用时，一般采用温度突变试验，否则采用温度渐变试验。

    散热样品在进行高温试验时，采用无强迫空气循环的试验箱(室)，它能满足“自由空气"条件，当试验规定的温度条件不容易保持时，也可以采用有强迫空气循环的试验箱(室)， 但要求这种箱(室)的风速尽量低。一般不超过0·5米/秒。

   (2)试验严酷等级的选择

    试验温度主要根据实际的使用或贮存环境条件来确定，此外，还应考虑太阳辐射增温、设备本身发热以及周围热源等诱发的环境影响。               。

    试验时间主要根据试验的目的来确定。如果试验仅仅是为了检测被试样品在高温条件下能否工作，则样品放入箱(室)后在规定的试验温度上达到温度稳定所需要的时间，可以作为试验时间，但一般不少于半小时。

    如果试验的目的是考核电子电工产物在高温条件下的耐久性或可靠性，可根据试验要求来确定试验时间。

   (3)在同一个试验箱中，有几个样品同时进行试验时，应注意试验样品之间，样品和安装器件之间不致相互干扰，也不应影响箱(室)内的循环气流。

   (4)高温试验设备应定期请专业检定机构检定一次。如果设备因故障检修，则检修后应立即组织检定。

   (5)制订产物高温试验标准或需要进行低温试验时，必须规定和掌握以下内容：

     是否进行预处理；初始检测的条件和项目；试验期间样品的状态；试验严酷等级，包括温度、容差和试验持续时间；试验期间应检测的项目，加负载的情况及时间；恢复条件；zui后检测的项目及采用的试验程序与标准试验程序的差别。

     对于散热或非散热样品，在温度渐变试验中应规定升、降温速率。

     对于散热样品的试验，应掌握安装和支撑件的性能。